我校彭涛教授团队在工业缺陷检测关键技术取得新突破

来源: 永利yl304 作者:张自力编辑人:罗园发稿时间:2026-07-22浏览次数:

近日,永利yl304(网络空间安全学院)彭涛教授团队取得重要科研突破,相关研究论文《Text-Guided Prior Decoupling and Alignment for Few-Shot Surface Defect Segmentation》成功被第34届ACM国际多媒体会议(ACM MM 2026,CCF A类)正式接收。该论文第一作者为学院2024级硕士研究生朱志伟,张自力老师为论文通讯作者,彭涛教授参与合作研究,论文第一作者单位、通讯作者单位均为永利304官网唯一,充分彰显了我校在人工智能与工业视觉检测领域的扎实科研实力。

工业表面缺陷精准分割是智能制造质量检测的核心关键技术,当前行业普遍面临缺陷样本数量稀缺、人工标注成本高昂、复杂生产背景干扰性强等技术难题。传统少样本缺陷分割方法存在语义引导能力薄弱、细微纹理特征丢失、缺陷边界分割模糊等短板,难以满足高精度工业质检的实际应用需求。

针对上述行业痛点与技术瓶颈,团队创新提出一种文本引导的先验解耦与对齐网络TDANet。该方法依托视觉语言模型生成高精度缺陷先验掩码,通过前景背景显式解耦、语义细节交叉对齐、空间-频率协同增强三大创新机制,实现对微小缺陷、复杂纹理和不规则边界的精确分割,大幅提升了工业缺陷检测的精准度与适应性。

图 1 TDANet模型框架

研究团队在FSSD-12Surface Defect-4i两大少样本表面缺陷分割基准数据集上开展多组对比实验。结果显示,在1-shot5-shot两种少样本测试场景下,TDANet模型性能均显著优于当前主流先进算法。多项消融实验充分验证了模型三大核心模块的有效性与协同适配性,该方法在复杂背景抑制、微小缺陷定位、精细化边界刻画等方面具备突出优势,拥有更强的鲁棒性与泛化能力,可更好适配复杂工业生产场景的质检需求。

图 2缺陷分割结果对比

ACM MM由国际计算机学会(ACM)主办,是多媒体计算、计算机视觉、人工智能及跨模态学习领域的国际顶级旗舰会议,位列中国计算机学会(CCF)推荐A类会议,在全球相关学术领域具备极高权威性与广泛影响力。会议聚焦多媒体内容分析、智能视觉理解、跨模态交互、智能媒体系统等前沿研究方向,汇聚全球顶尖科研团队与行业专家,是展示人工智能多媒体领域最新科研成果的核心学术平台。本届ACM MM 2026将于20261110日至14日在巴西里约热内卢举办。

近年来,永利yl304持续深耕学科建设与科研创新,坚持推进有组织科研,聚力人工智能等重点研究方向,不断深化国内外学术交流与产学研协同创新。此次成果入选ACM MM顶级会议,是学院研究生培养质量、青年科研力量培育与高水平科研成果产出的重要体现。未来,学院将持续夯实科研根基,聚焦前沿技术与产业需求,持续产出更多高质量、高价值的科研成果,助力学校学科建设与科研创新高质量发展。